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用于提供位移信号的抗污染和缺陷光学编码器配置

摘要

一种光学编码器配置包括标尺、照明源和光电检测器配置。照明源被配置为向标尺输出结构化照明。标尺沿着测量轴方向延伸并且被配置为输出标尺光,该标尺光形成检测器条纹图案,该检测条纹图案包括沿着测量轴方向在相对较长的尺寸上延伸的周期性高强度带和低强度带、并且沿着横向于测量轴方向的检测到的条纹运动方向是相对窄的而且是周期性的。当标尺光栅沿着测量轴方向移位时,高强度带和低强度带沿着横向于测量轴方向的检测到的条纹运动方向移动。光电检测器配置被配置为检测沿检测到的条纹运动方向的高强度带和低强度带的位移,并提供指示标尺位移的相应空间相位位移信号。

著录项

  • 公开/公告号CN109211284B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-03-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 株式会社三丰;

    申请/专利号CN201810695028.X

  • 申请日2018-06-29

  • 分类号G01D5/26(20060101);G01D5/34(20060101);G01D5/38(20060101);G01D5/30(20060101);G01D3/032(20060101);G01B11/02(20060101);

  • 代理机构11105 北京市柳沈律师事务所;

  • 代理人陈金林

  • 地址 日本神奈川县

  • 入库时间 2022-08-23 11:34:58

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