公开/公告号CN109211284B
专利类型发明专利
公开/公告日2021-03-12
原文格式PDF
申请/专利权人 株式会社三丰;
申请/专利号CN201810695028.X
申请日2018-06-29
分类号G01D5/26(20060101);G01D5/34(20060101);G01D5/38(20060101);G01D5/30(20060101);G01D3/032(20060101);G01B11/02(20060101);
代理机构11105 北京市柳沈律师事务所;
代理人陈金林
地址 日本神奈川县
入库时间 2022-08-23 11:34:58
机译: 用于提供位移信号的抗污染和抗缺陷的光学编码器配置,其具有多个空间相位检测器,这些空间相位检测器沿着与测量轴垂直的方向按空间相序排列
机译: 提供位移信号的抗污染和抗缺陷光学编码器配置
机译: 提供位移信号的抗污染和抗缺陷光学编码器配置