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一种测量纳米器件输运性质的系统和方法

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本申请公开了一种测量纳米器件输运性质的系统和方法，利用FPGA性能高、I/O接口多和可重复配置的优点，控制数据转换单元输出信号并采集信号，对纳米器件进行控制和读出，以测量和表征纳米器件的输运性质，其是一种集成度高、多通道、具有高精度和低噪声优点的系统。

著录项

公开/公告号CN110824249B

专利类型发明专利
公开/公告日2021-03-09

原文格式PDF
申请/专利权人中国科学技术大学;
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申请/专利号CN201911133287.4
发明设计人赵宇曦;秦熙;肖庆;程光磊;杜江峰;
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申请日2019-11-19
分类号G01R23/18(20060101);G01R23/167(20060101);G01R13/00(20060101);G01R13/02(20060101);
代理机构11227 北京集佳知识产权代理有限公司;
代理人纪志超
地址 230026 安徽省合肥市包河区金寨路96号
入库时间 2022-08-23 11:34:25

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