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测量系统、测量方法、测量机以及测量用反射目标

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本发明提供一种测量系统、测量方法、测量机以及测量用反射目标，其设成能够确定希望反射目标。实施方式具备棱镜(4)，以及向棱镜(4)出射测距光、基于来自棱镜(4)的反射测距光、进行测距的全站仪(3)。棱镜(4)具备固有的辩识信息(6)，全站仪(3)设定成能够对设定辩识信息(6)进行设定，并且读入棱镜(4)的固有的辩识信息(6)，将该固有的辩识信息(6)与设定辩识信息(6)进行对照。

著录项

公开/公告号CN105823460B

专利类型发明专利
公开/公告日2021-03-02

原文格式PDF
申请/专利权人株式会社拓普康;
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申请/专利号CN201510770372.7
发明设计人熊谷薫;西田信幸;河内纯平;
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申请日2015-11-12
分类号G01C3/00(20060101);G01C3/02(20060101);
代理机构72002 永新专利商标代理有限公司;
代理人高迪
地址日本东京
入库时间 2022-08-23 11:34:04

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