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一种用于测量等离子体沉积的动态压阻探针

摘要

一种用于测量等离子体沉积的动态压阻探针,使用接触式测量方法对金属推进剂电推力器束流等离子体的沉积情况进行测量的动态压阻探针。测量对象为电推进领域的金属工质锂推力器,测量离子沉积率。采用了一个恒流源通在并联的两块不同材质的金属板上,将等离子体沉积在金属表面产生的电阻率变化的差异采集并建立模型计算,最终获得等离子体的沉积率。

著录项

  • 公开/公告号CN110672667B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-02-26

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京航空航天大学;

    申请/专利号CN201910986478.9

  • 申请日2019-10-17

  • 分类号G01N27/04(20060101);

  • 代理机构11668 北京航智知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人黄川;史继颖

  • 地址 100191 北京市海淀区学院路37号

  • 入库时间 2022-08-23 11:33:03

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