一种IQ调制器的子消光比测试的方法和系统

摘要

本发明涉及光通信领域，具体涉及一种IQ调制器的子消光比测试的方法和系统，具体步骤为：遍历两和母MZI采样电压集合，查找两子路的ON点；将第二子路调制电压设置为该的ON点，遍历第一子路采样电压集合，对第一子路采样电压集合中的每一个调制电压，遍历母MZI采样电压集合，查找第一子路的OFF点，并获得第一子路OFF点对应的最大的MPD值和最小的MPD值，并使用同样方式获得第二子路OFF点对应的最大的MPD值和最小的MPD值；使用一个子路ON状态另一子路OFF状态对应的两组最大的MPD值和最小的MPD值，计算两个子路的子消光比。本发明可以测试任何功率的子MZI的子消光比，而且可以避免噪声影响导致的测试误差，测试方法相较现有技术更方便准确、应用场景更广泛。