一种X射线荧光光谱法分析制样用助研磨添加剂及使用方法

摘要

本发明涉及一种X射线荧光光谱法分析制样用助研磨添加剂及使用方法，添加剂包括乙醇(95％分析纯)、三乙醇胺(分析纯>95％)、硬酯酸钠(分析纯)，乙醇与三乙醇胺按体积比为(1～2)：1；每50毫升乙醇和三乙醇胺混合物中加入3～5克硬酯酸钠。在样品制备的过程中添加本添加剂，使样品在研磨过程中，细小颗粒之间不能产生粒度效应。消除样品粒度之间的吸附力，增加样品颗粒之间的张力，使样品在研磨过程中不能粘附成球状或饼状，阻碍样品粒度的进一步破碎。使样品的破碎粒度最终达到小于0.050mm。