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具有凹口鳍片的FINFET及其形成方法

摘要

本发明涉及具有凹口鳍片的FINFET及其形成方法,其一个方面提供一种形成替代栅极结构的方法。该方法可包括:自一组鳍片上方移除伪栅极,以在介电层中形成开口来暴露该组鳍片,该组鳍片中的各鳍片通过介电质与该组鳍片中的相邻鳍片基本隔开;在该组暴露鳍片上方的该开口内形成保护覆盖层;移除该组鳍片中各鳍片的每侧上的该介电质的部分;通过移除该组鳍片中的各鳍片的部分来底切该组鳍片中的各鳍片,以形成设于该保护覆盖层下方的凹口;用氧化物基本填充各凹口;在该组鳍片中的各鳍片上方形成栅极介电质;以及在该栅极介电质上方形成栅极导体,从而形成该替代栅极结构。

著录项

  • 公开/公告号CN107086249B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-02-05

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 格罗方德半导体公司;

    申请/专利号CN201710083321.6

  • 申请日2017-02-16

  • 分类号H01L29/78(20060101);H01L21/336(20060101);

  • 代理机构11314 北京戈程知识产权代理有限公司;

  • 代理人程伟;王锦阳

  • 地址 英属开曼群岛大开曼岛

  • 入库时间 2022-08-23 11:31:17

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