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一种岩样孔隙发育状况评估方法

摘要

本发明实施例涉及一种岩样孔隙发育状况评估方法,所述方法包括:获取岩样以及与所述岩样对应的中子测井值与声波测井值;测试所述岩样的孔隙度;耦合所述岩样的孔隙度、所述中子测井值以及所述声波测井值,建立所述岩样的孔隙发育情况划分图版;根据所述岩样的孔隙发育情况划分图版,评估所述岩样的孔隙发育情况。如此通过耦合岩样的孔隙度、中子测井值以及声波测井值,提供一个新的岩样的孔隙发育情况划分图版,可以准确地预测岩样孔隙发育状况,尤其对于孔隙结构性质复杂的非均质岩样。

著录项

  • 公开/公告号CN111537417B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-02-02

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院力学研究所;

    申请/专利号CN202010304621.4

  • 申请日2020-04-17

  • 分类号G01N15/08(20060101);G01V1/50(20060101);G01V5/10(20060101);

  • 代理机构11390 北京和信华成知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人胡剑辉

  • 地址 100190 北京市海淀区北四环西路15号

  • 入库时间 2022-08-23 11:31:12

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