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一种全参考电阻抗成像图像质量评价方法

摘要

本发明为一种全参考电阻抗成像图像质量评价方法。该图像质量评价方法将电阻抗成像场域的真实电阻率分布图像作为参考图像,将电阻抗成像结果图像作为评价对象,通过计算成像结果与参考图像对应像素点像素值归一化后的像素均方误差(Pixel Mean Squared Error,PMSE)和对比度均方误差(Contrast Mean Squared Error,CMSE),将两种误差作为图像的分辨率和对比度评价指标,并纵向比较两种误差的大小来实现对电阻抗成像图像质量的评价,从而实现对电阻抗成像的算法和成像能力的优劣进行评判。整个评价方法数学过程简单、合理,能实现对电阻抗成像图像质量的快速和准确的评价。

著录项

  • 公开/公告号CN108122229B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-02-02

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 重庆大学;

    申请/专利号CN201711422729.8

  • 申请日2017-12-25

  • 分类号G06T7/00(20170101);

  • 代理机构50102 重庆市恒信知识产权代理有限公司;

  • 代理人李金蓉

  • 地址 400044 重庆市沙坪坝区沙正街174号

  • 入库时间 2022-08-23 11:30:58

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