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基于粒子群算法的模拟电路单故障诊断方法

摘要

本发明基于粒子群算法的模拟电路单故障诊断方法,首先获取模拟电路在测点处的传输函数,并获取模拟电路的元件信息和模糊组信息,当模拟电路出现故障时,在预设的激励信号下测量得到测点处的输出电压,然后以元件参数向量作为粒子群算法的粒子,根据传输函数得到各个粒子对应的输出电压,根据故障输出电压和粒子输出电压的差值来计算粒子的适应度值,适应度越小,粒子越优,在粒子群算法迭代完成后,从全局最优位置中筛选出元件参数超出容差范围的元件,该元件所对应的模糊组即为故障诊断结果。本发明无需事先存储,根据故障电路响应,利用粒子群算法找到与故障响应最接近的模拟电路传输函数参数,进而发现故障源。

著录项

  • 公开/公告号CN110907810B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-01-26

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 电子科技大学;

    申请/专利号CN201911212967.5

  • 发明设计人 杨成林;田书林;黄建国;

    申请日2019-12-02

  • 分类号G01R31/316(20060101);G06N3/00(20060101);

  • 代理机构51220 成都行之专利代理事务所(普通合伙);

  • 代理人温利平;陈靓靓

  • 地址 611731 四川省成都市高新区(西区)西源大道2006号

  • 入库时间 2022-08-23 11:30:22

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