首页> 中国专利> 光子到达时间和位置同步测量的荧光寿命成像系统及方法

光子到达时间和位置同步测量的荧光寿命成像系统及方法

摘要

本发明涉及一种光子到达时间和位置同步测量的荧光寿命成像系统及方法,包括扫描平移台,待成像样品,激发光源,聚焦透镜、多色仪、MCP位敏阳极探测器;扫描平移台用于放置待成像样品;激发光源用于照射待成像样品;聚焦透镜、多色仪、MCP位敏阳极探测器依次设置于待成像样品受激发光的传播方向;所述的MCP位敏阳极探测器的外侧连接时间信号引出模块;所述MCP位敏阳极探测器的位敏阳极多路输出依次与电荷灵敏前置放大器、光子到达时间和位置同步测量电路、图像重建模块连接;所述时间信号引出模块与光子到达时间和位置同步测量电路连接;所述扫描平移台与图像重建模块连接。本发明具有更精细的光谱分辨率、可获取更多维信息。

著录项

  • 公开/公告号CN108387560B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-01-19

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 南昌大学;

    申请/专利号CN201810040971.7

  • 发明设计人 鄢秋荣;王慧;袁成龙;李冰;

    申请日2018-01-16

  • 分类号G01N21/64(20060101);G01N21/01(20060101);

  • 代理机构36123 南昌青远专利代理事务所(普通合伙);

  • 代理人刘爱芳

  • 地址 330000 江西省南昌市红谷滩新区学府大道999号

  • 入库时间 2022-08-23 11:29:26

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号