利用光学成像测量系统对物体的尺寸进行精密测量的方法

摘要

本发明公开了一种利用光学成像测量系统对物体的尺寸进行精密测量的方法，包括以下步骤：将一个物理尺寸已知且与待测件的材质相同的标准件和一个与待测件的材质相同的参考件同时放在光学成像测量系统中，使标准件和参考件同时独立成像，根据公式f＝x₀K₁/K₀计算出修正系数f，其中K₁是标准件像素尺寸，K₀是参考件像素尺寸，x₀是标准件物理尺寸；取出标准件换上一个待测件，使待测件和参考件同时独立成像，由公式x＝(K_x/K₁′)f可以计算出待测件的物理尺寸x，其中K_x为待测件的像素尺寸，K₁′为本次测量中参考件的像素尺寸。本发明的测量方法可以自动消除温度变化的影响，不需要在恒温条件下进行测量就可以得到比较准确的测量结果，特别适用于对成批同材质的待测件进行测量。