一种基于离散化多值扩展D矩阵的电子产品故障诊断方法

摘要

本发明提供一种基于离散化多值扩展D矩阵的电子产品故障诊断方法，属于电子产品故障诊断和测试技术领域。包括：获取待诊断电子产品在正常状态和各个故障状态下的样本数据；对每个测试点获得的样本数据进行聚类，获得每个测试点下的聚类数目以及聚类中心，建立离散化的多值D矩阵；同时，构建离散化的测试向量；计算与离散化多值D矩阵中每一行的曼哈顿距离，找到与测试向量的曼哈顿距离最短的D矩阵的行，该行对应的状态就是根据离散化的测试向量所诊断出的电子产品的状态。本发明利用K‑means聚类对单个测试点数据进行离散化处理，构建多值D矩阵，通过计算测试向量与多值D矩阵的曼哈顿距离实现故障诊断，提高了方法的应用可行性。