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光发射机频率响应特性不平衡的测量装置及方法

摘要

本发明实施例提供一种光发射机频率响应特性不平衡的测量装置及方法,通过在光发射机的I路和Q路上分别发送导频信号以及至少一个单频信号,在光接收机端根据该导频信号对接收信号中由光发射机的激光器与光接收机的激光器导致的相位噪声进行补偿,根据该补偿后的信号能够计算对应于该至少一个单频信号中各个单频信号的频点处的光发射机的Q路和I路的幅度比以及相位不平衡,从而能够有效的对光发射机的频率响应特性不平衡进行测量,测量结果准确可靠。

著录项

  • 公开/公告号CN108631863B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-01-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 富士通株式会社;

    申请/专利号CN201710161197.0

  • 发明设计人 鞠诚;陶振宁;

    申请日2017-03-17

  • 分类号H04B10/079(20130101);

  • 代理机构11127 北京三友知识产权代理有限公司;

  • 代理人陶海萍;王锴

  • 地址 日本神奈川县川崎市

  • 入库时间 2022-08-23 11:28:59

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