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一种调制薄膜激光感生电压的方法

摘要

本发明公开一种调制薄膜激光感生电压的方法,属于功能薄膜材料领域。选取c轴倾斜的单晶压电材料(如SiO2、单晶Si或ZnS等)作为衬底,在单晶压电衬底上生长具有激光感生电压效应的外延薄膜(如在SiO2倾斜衬底上生长ZnO、CuAlO2或CuCr1‑xMgxO2薄膜、在单晶Si倾斜衬底上生长YBa2Cu3O7‑x、ZnO或AlN薄膜,在ZnS倾斜衬底上生长HfO2薄膜),在压电衬底两端施加外电压使衬底产生微量形变,从而使得生长在其上的薄膜Seebeck系数各向异性得到改变,因此可以灵活调制薄膜的激光感生电压。

著录项

  • 公开/公告号CN108534945B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-01-05

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 昆明理工大学;

    申请/专利号CN201810237816.4

  • 申请日2018-03-22

  • 分类号G01L11/02(20060101);H01L41/22(20130101);

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 650093 云南省昆明市五华区学府路253号

  • 入库时间 2022-08-23 11:27:53

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