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公开/公告号CN108896608B
专利类型发明专利
公开/公告日2020-12-08
原文格式PDF
申请/专利权人 中国科学院电工研究所;
申请/专利号CN201810785037.8
发明设计人 任成燕;胡多;邵涛;章程;孔飞;
申请日2018-07-17
分类号G01N27/00(20060101);G01N25/00(20060101);
代理机构11496 北京君泊知识产权代理有限公司;
代理人王程远;胡玉章
地址 100190 北京市海淀区中关村北二条6号
入库时间 2022-08-23 11:24:40
机译: 热刺激电流测量装置,热刺激电流测量程序和热刺激电流测量方法
机译: 在计算机中实施的用于提供刺激程序头的方法,该刺激程序头用于在计算机中实施的电疗法刺激方法的系统中,用于产生作业的波形,设备,通过脉冲电流法经颅刺激的发生器。一种通过脉冲电流经颅刺激的治疗方案,以及提供用于混沌系统刺激中的电疗头的刺激程序的方法
机译:固体半导体的额外特定通道的光激活。 在可见光活跃的光致变色金红石二氧化钛中的热/光刺激漂白的热/光刺激漂白的热/光刺激漂白
机译:预辐照的原子固体中的光刺激和热刺激弛豫过程
机译:检查由于导电粉末分散的聚酰亚胺的热刺激电流引起的带电性和热劣化
机译:使用热刺激电流和碳黑填充聚酰亚胺膜的热刺激电流和介电特性检查陷阱的热处理的影响
机译:热刺激的去极化电流评估模塑化合物
机译:纳米晶二氧化钛中的热刺激电流
机译:跟踪试验下固体绝缘材料泄漏电流水平与环境应力的数学分析
机译:一种利用热刺激电容测量硅中热活化能级的系统