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一种温盐深剖面仪海上比测数据对齐方法

摘要

一种温盐深剖面仪海上比测数据对齐方法,涉及温盐深剖面仪。以CTD压力数据为计算基准,选取标准CTD下行过程中表层下降或者底层上升的转折点附近的一段压力序列,该序列以转折点为中心,向前后各延伸;固定标准CTD的数据序列,在被试CTD的压力序列中截取与标准CTD数据量相等的一段数据序列,计算两者的相关系数,每计算一次相关系数,被试CTD数据向后移动或向前一个序号,直至计算完毕;找出两组数据相关性最高时对应的起始序号,扣除差即可对齐两台CTD的采样数据;若拐点或转折点相位差不等,需对数据重新插值处理后再与标准器进行比对;压力数据对齐后,CTD的其他测量参数以压力的相位差为基准平移,再计算各项误差。

著录项

  • 公开/公告号CN110489855B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-12-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 厦门大学;

    申请/专利号CN201910753481.6

  • 申请日2019-08-15

  • 分类号G06F30/20(20200101);G06F17/17(20060101);

  • 代理机构35200 厦门南强之路专利事务所(普通合伙);

  • 代理人马应森

  • 地址 361005 福建省厦门市思明南路422号

  • 入库时间 2022-08-23 11:24:22

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