首页> 中国专利> 一种光学外差法腔衰荡光谱测量装置及方法

一种光学外差法腔衰荡光谱测量装置及方法

摘要

本发明实施例公开了一种光学外差法腔衰荡光谱测量装置及方法。该测量装置包括用于产生激光光束的激光光源,调制光路机构,用于接收经过调制光路机构调制后的激光光束并将激光光束发生干涉叠加的无源谐振腔,用于接收所述干涉叠加后的激光光束并产生电信号的光学外差探测机构,接收所述电信号并判断所述电信号与预设阈值的关系的数据处理机构,若电信号大于所述预设阈值时,数据处理机构发出关断所述激光光源的指令并通过数据采集电路采集、描绘衰荡曲线及计算待测痕量物质浓度。该测量装置及方法能够提高测量精度、操作简单且成本低。

著录项

  • 公开/公告号CN109580541B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-12-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN201811493376.5

  • 发明设计人 颜昌翔;宋绍漫;

    申请日2018-12-07

  • 分类号G01N21/39(20060101);

  • 代理机构44316 深圳市科进知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人曹卫良

  • 地址 130033 吉林省长春市经济技术开发区东南湖大路3888号

  • 入库时间 2022-08-23 11:24:18

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号