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Offner双路结构成像光谱仪及方法

摘要

本发明公开了一种Offner双路结构成像光谱仪及方法,包括沿光路分布的第一反射物镜、凸面光栅、第二反射物镜、第一平面反射镜、中间狭缝、第二平面反射镜、第三平面反射镜和面阵探测器,使得来自探测目标的光束依次经过第一反射物镜、凸面光栅、第二反射物镜和第一平面反射镜形成的第一反射路径后,经过中间狭缝的滤光后,依次通过第二平面反射镜、第二反射物镜、凸面光栅、第一反射物镜和第三平面反射镜形成的第二反射路径后,成像在面阵探测器的靶面上。

著录项

  • 公开/公告号CN108981914B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-12-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN201810495678.X

  • 申请日2018-05-22

  • 分类号G01J3/28(20060101);G01J3/04(20060101);G01J3/02(20060101);

  • 代理机构37221 济南圣达知识产权代理有限公司;

  • 代理人李琳

  • 地址 266555 山东省青岛市经济技术开发区香江路98号

  • 入库时间 2022-08-23 11:23:42

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