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一种基于KPI指标的多维异常检测方法、装置及存储介质

摘要

本发明涉及计算机技术领域,公开了一种基于KPI指标的多维异常检测方法、装置及存储介质,其中方法包括以下步骤:获取警告前后P+Q分钟的交易数据;根据警告发生时刻的维度组合对P+Q分钟的维度组合进行缺失值填充并评估数据规模;根据评估数据规模采用部分异常检测或全局异常检测得到所有维度组合的异常贡献;其中部分异常检测仅对叶子节点进行异常贡献检测,上层结点的异常贡献通过下层节点的异常贡献加和得到;全局异常检测对所有维度组合的异常贡献进行检测。本发明是一种与指标含义无关的异常检测方法,充分考虑了派生测量值的影响,可以在多个指标同时异常时给出统一的异常得分,支持的维度在10维以上,是一套可实践的方法。

著录项

  • 公开/公告号CN111506637B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-11-27

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京必示科技有限公司;

    申请/专利号CN202010551259.0

  • 申请日2020-06-17

  • 分类号G06F16/2458(20190101);G06F16/28(20190101);G06Q40/04(20120101);

  • 代理机构11888 北京华创智道知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人周倩

  • 地址 100083 北京市海淀区中关村东路8号东升大厦A座4层

  • 入库时间 2022-08-23 11:23:27

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