公开/公告号CN100409102C
专利类型发明授权
公开/公告日2008-08-06
原文格式PDF
申请/专利权人 上海微电子装备有限公司;
申请/专利号CN200510024229.X
申请日2005-03-07
分类号G03F7/20(20060101);G01M11/00(20060101);
代理机构31213 上海新天专利代理有限公司;
代理人王敏杰
地址 201203 上海市浦东新区张东路1525号
入库时间 2022-08-23 09:01:03
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2018-01-12
专利权人的姓名或者名称、地址的变更 IPC(主分类):G03F 7/20 变更前: 变更后: 申请日:20050307
专利权人的姓名或者名称、地址的变更
2008-08-06
授权
授权
2008-08-06
授权
授权
2005-10-12
实质审查的生效
实质审查的生效
2005-10-12
实质审查的生效
实质审查的生效
2005-08-17
公开
公开
2005-08-17
公开
公开
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机译: 用于检测荧光并抑制通过透镜检测到的照明测试产生的杂散光的光学扫描配置在焦平面中为杂散光创建了阴影区域。
机译: 扫描光束显示器中MEMS进给光学器件的静态杂散光去除
机译: 具有完全照明的多边形的光栅扫描仪中防止杂散光反射