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结构面粗糙度系数统计参数Z2与采样间距关系模型的构建方法

摘要

一种基于采样间距的结构面粗糙度系数与统计参数之间关系模型的构建方法,包括如下步骤:1)选取Barton标准轮廓线的高像素图片,重绘得到轮廓线,保存为图片格式;2)根据1)中得到的结构面轮廓线信息,设置不同的采样间距Δx,计算出对应的粗糙度统计参数Z2;3)分别对不同采样间距下,结构面粗糙度系数JRC与统计参数Z2之间的关系进行拟合;4)探索拟合参数a1、b1;a2、b2与采样间距Δx之间的函数关系,进而可构建不同采样间距下结构面粗糙度系数的函数模型。本发明能够较好的描述采样间距对结构面粗糙度系数估测的影响,从而能够快速、准确地估计不同采样间距下的结构面粗糙度系数JRC。

著录项

  • 公开/公告号CN107577884B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-10-27

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 绍兴文理学院;

    申请/专利号CN201710830389.6

  • 申请日2017-09-13

  • 分类号G06F30/20(20200101);G06F119/00(20200101);G01N33/24(20060101);

  • 代理机构33241 杭州斯可睿专利事务所有限公司;

  • 代理人王利强

  • 地址 312000 浙江省绍兴市越城区环城西路508号

  • 入库时间 2022-08-23 11:18:31

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