首页> 中国专利> 具有更均匀注入和更低光学损耗的改进的P接触

具有更均匀注入和更低光学损耗的改进的P接触

摘要

通过在毗邻保护片(150)的区域(310)中故意抑制电流流动通过p层(130)来调适跨过半导体器件的p层(130)的电流分布,而不减小器件的任何部分的光学反射率。通过增大沿着接触区域的边缘以及在拐角耦合到p接触(140)的p层的电阻,可以抑制此电流流动。在示例实施例中,在p接触(130)形成之后,通过浅剂量的氢离子(H+)注入产生高电阻区域(130)。类似地,可以在p接触和p层之间的选定区域中应用电阻性涂层。

著录项

  • 公开/公告号CN103918092B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-10-27

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 亮锐控股有限公司;

    申请/专利号CN201280054659.4

  • 发明设计人 J.E.伊普勒;

    申请日2012-10-29

  • 分类号H01L33/38(20060101);H01L33/14(20060101);

  • 代理机构72001 中国专利代理(香港)有限公司;

  • 代理人李亚非;汪扬

  • 地址 荷兰史基浦

  • 入库时间 2022-08-23 11:18:21

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号