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一种图像型电子自旋分析器

摘要

本发明提供一种图像型电子自旋分析器,包括:电子光学系统、散射靶和二维图像型电子探测器;所述电子光学系统包括非轴对称透镜群和磁场,非轴对称透镜群与磁场相配合使入射电子与出射电子的运动轨道相分离以增加自旋分析器各部件几何配置的自由度,将入射电子偏转并成像至与所述反射靶相对应的特定平面处,并将由所述散射靶散射后的电子成像在所述二维图像型电子探测器上形成二维电子强度图像,从而实现电子自旋的多通道测量;非轴对称透镜的引入可以补偿磁场电子光学特性在垂直及平行磁场方向的非对称性、减小光学系统的像差、并使电子光学系统的调试更为简单。

著录项

  • 公开/公告号CN109470731B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-10-20

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN201710800610.3

  • 发明设计人 乔山;

    申请日2017-09-07

  • 分类号G01N24/00(20060101);

  • 代理机构31233 上海泰能知识产权代理事务所;

  • 代理人宋缨

  • 地址 200050 上海市长宁区长宁路865号

  • 入库时间 2022-08-23 11:17:38

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