一种图像型电子自旋分析器

摘要

本实用新型提供一种图像型电子自旋分析器，包括二维图像型电子探测器及电子光学系统，电子光学系统包括铁磁性反射靶、入射电子透镜组及至少一反射电子透镜组。本实用新型利用铁磁性反射靶对具有不同自旋方向的电子的不同的反射率实现对电子自旋的测量，反射靶的镜面反射可以实现入射、出射电子轨道的分离，从而避免电子光学系统及电子探测器的几何配置困难，并可使透镜系统采用较大的尺寸从而获得较小的像差，电子光学系统能够实现初始平面处电子图像到二维图像型电子探测器入口平面的点到点二维成像，从而实现对电子自旋的二维多通道测量。另外，相比现有图像型VLEED电子自旋分析器，本实用新型的图像型电子自旋分析器无需引入磁场，结构更简单。