首页> 中国专利> 一种I型裂纹的应力强度因子测定方法

一种I型裂纹的应力强度因子测定方法

摘要

本发明是一种I型裂纹的应力强度因子测定方法,该方法的步骤如下:步骤一、采用无损检测技术确定结构中I型裂纹的位置,然后测量I型裂纹的表面长度αL;步骤二、沿I型裂纹的表面长度αL,测量I型裂纹的埋藏深度αD;步骤三、对结构中的I型裂纹进行受力分析,确定外加应力σ;步骤四、根据步骤一、步骤二中确定的I型裂纹的几何特征,通过查询相关材料手册获得I型裂纹的形状因子Y;步骤五、以I型裂纹的表面长度αL、埋藏深度αD、外加应力σ和形状因子Y作为输入,采用解析计算法/数值法求解I型裂纹的应力强度因子。该方法工序简单但精度很高,能够有效提高I型应力强度因子计算结果的精度和置信度。

著录项

  • 公开/公告号CN107064288B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-10-20

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国航空综合技术研究所;

    申请/专利号CN201611051027.9

  • 申请日2016-11-24

  • 分类号G01N27/83(20060101);

  • 代理机构11008 中国航空专利中心;

  • 代理人陈宏林

  • 地址 100028 北京市朝阳区京顺路7号

  • 入库时间 2022-08-23 11:17:32

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号