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一种成像仪器校准方法及成像仪器校准系统

摘要

本申请涉及一种成像仪器校准方法及成像仪器校准系统。成像仪器校准方法包括:设置标校杆,并使其温度高于周围环境温度;调整试验转台,对红外热像仪光轴与激光测距机光轴的水平方向进行校准;调整试验转台,对红外热像仪光轴与激光测距机光轴的俯仰方向进行校准。本申请的成像仪器校准方法及成像仪器校准系统,有益效果为对于无特殊标校设计的红外热像仪以及激光测距机成像测距系统,可以提供一种不受外界环境影响,快速有效且便于操作的普适校准方法与校准系统。

著录项

  • 公开/公告号CN109945893B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-10-13

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京环境特性研究所;

    申请/专利号CN201910255332.7

  • 发明设计人 魏阿满;崔述金;李伯轩;刘奇;

    申请日2019-04-01

  • 分类号G01C25/00(20060101);G01S7/497(20060101);G01V13/00(20060101);

  • 代理机构11609 北京格允知识产权代理有限公司;

  • 代理人张沫;谭辉

  • 地址 100854 北京市海淀区永定路50号

  • 入库时间 2022-08-23 11:16:48

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