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一种选择性激光烧结铺粉层厚测量及均匀性表征的方法

摘要

本发明公开了一种选择性激光烧结铺粉层厚测量及均匀性表征的方法,具体步骤包括两种不同粉末的激光烧结、试件剖切及清洗、烧结层厚度测量、烧结层厚度计算及铺粉均匀性评价等;首先把粉末A和粉末B分别装在左右不同的送粉缸,再交叠进行激光烧结不同方位的多个试件,然后把清洗干净的试件放到扫描电子显微镜下,进行烧结厚度的测量,通过烧结厚度及烧结次数计算铺粉层厚,再根据不同方位的铺粉层厚,采用标准偏差表征铺粉均匀性。本发明方法简单实用,可以解决实验现场无法计算和测量铺粉层厚及其均匀性的问题,有利于进一步研究粉层厚度对铺粉质量的影响。

著录项

  • 公开/公告号CN109781038B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-10-02

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 湘潭大学;

    申请/专利号CN201910182592.6

  • 申请日2019-03-12

  • 分类号G01B15/02(20060101);

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 411105 湖南省湘潭市雨湖区羊牯塘湘潭大学

  • 入库时间 2022-08-23 11:15:54

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