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预倾角测定装置及预倾角测定方法

摘要

本发明提供能抑制误差的预倾角测定装置及预倾角测定方法。预倾角测定装置(1)具备:透射测定投光部(2),其向液晶基板(LC)的测定位置(M)照射偏振的测定光;透射测定受光部(3),其接收测定光的透射光,获取透射光的偏振状态;倾斜测定投光部(41),其向液晶基板(LC)的测定位置(M)照射倾斜检测用光(L1);倾斜测定受光部(43),其接收倾斜检测用光(L1)的反射光(L2),获取反射光(L2)的受光位置;和控制部(10),其根据反射光(L2)的受光位置,算出液晶基板(LC)的测定位置(M)的倾角,根据测定光的照射角度、液晶基板(LC)的测定位置(M)的倾角和透射光的偏振状态,算出液晶基板(LC)中所含的液晶分子的预倾角。

著录项

  • 公开/公告号CN106918308B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-10-02

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 大塚电子株式会社;

    申请/专利号CN201611166680.X

  • 发明设计人 杉田一宏;稻野大辅;今坂真子;

    申请日2016-12-16

  • 分类号G01B11/26(20060101);G02F1/13(20060101);

  • 代理机构11300 北京瑞盟知识产权代理有限公司;

  • 代理人刘昕

  • 地址 日本国大阪府枚方市招提田近三丁目26番3号

  • 入库时间 2022-08-23 11:15:41

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