一种用于PET闪烁晶体性能测试的电子学数据处理方法及系统

摘要

本发明公开了一种用于PET闪烁晶体性能测试的电子学数据处理方法及系统。本方法为：1)将N路串行数据流转换为数字化的N路并行信号；2)将每路并行信号分成两路，一路进入信号寻峰模块，用于判断输入信号是否为有效脉冲信号并输出对应的通道信号标志Flag，一路进入信号延迟模块，用于将输入信号延迟到Flag产生的时刻；3)将各Flag进行或运算得到信号Eflag，将其对应时刻作为对延迟信号同时电荷积分的时间起点；4)对各路信号同时进行信号积分，获得相应积分电荷量并存储到对应能量FIFO模块；5)实时监测任一能量FIFO模块的状态，如果其状态不为空，则读取N路能量FIFO模块的缓存数据发送给数据分析单元。