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用于高精度地确定充填物在容器内的充填水平的方法和设备

摘要

本发明涉及一种高精度确定充填物(4)在容器(2)内的充填水平(q)的方法,其中,测量信号朝充填物(4)的表面(5)的方向发射和在此表面(5)上作为回波信号反射,以及,通过计算反射的回波信号的振幅值(A)和相位值(φ)借助于脉冲延迟时间法确定容器(2)内的充填水平(q)。此外还建议了一种适用于实施此方法的设备。本发明的目的是提供一种方法和一种设备,它们甚至在出现多径传播或多模传播时也能高精度测量容器(2)内的充填水平。此目的采取下列措施达到,即,补偿在确定充填水平(q)时出现的和由干扰信号引起的误差,干扰信号结构性或破坏性地干扰在充填物(4)表面(5)上正规地反射的回波信号;至少在其中产生干扰信号的临界充填水平测量范围(Fkritisch)内对于被选出的充填水平值(q)确定和贮存一修正值(K(q))。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2013-08-28

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01F23/284 授权公告日:20060419 终止日期:20120705 申请日:20000705

    专利权的终止

  • 2006-04-19

    授权

    授权

  • 2001-01-24

    公开

    公开

  • 2000-11-01

    实质审查请求的生效

    实质审查请求的生效

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