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用于测量条状体的直径和/或壁厚的设备和方法

摘要

本发明涉及一种用于测量条状体的直径和/或壁厚的设备,所述条状体在横截面中基本上是圆形的并借助导向机构沿其纵轴线的方向被引导通过所述设备,所述设备包括至少一个用于发射太赫兹辐射的发射器,设有至少一个辐射光学器件,该辐射光学器件将由发射器发射的太赫兹辐射引导到被引导通过所述设备的条状体上,与至少一个发射器相对置地沿由至少一个发射器发射的太赫兹辐射的发射方向在条状体后面设置用于太赫兹辐射的反射器,所述设备还包括至少一个接收器,该接收器用于接收由所述至少一个发射器发射的并且在条状体上和/或反射器上反射的太赫兹辐射,并且所述设备还包括评价装置,所述评价装置设置成,借助由所述至少一个接收器接收的测量信号确定条状体的直径和/或壁厚。此外,本发明还涉及一种相应的方法。

著录项

  • 公开/公告号CN107532883B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-08-14

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 斯考拉股份公司;

    申请/专利号CN201680024669.1

  • 发明设计人 H·斯考拉;

    申请日2016-02-26

  • 分类号

  • 代理机构中国国际贸易促进委员会专利商标事务所;

  • 代理人俄旨淳

  • 地址 德国不来梅

  • 入库时间 2022-08-23 11:09:11

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-08-14

    授权

    授权

  • 2018-03-30

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B11/06 申请日:20160226

    实质审查的生效

  • 2018-01-02

    公开

    公开

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