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一种基于并行探测的超分辨荧光寿命成像方法和装置

摘要

本发明公开一种基于并行探测的超分辨荧光寿命成像装置,包括光源,光源发出的激发光由显微物镜聚焦到样品上并收集样品发出的信号光,其中,接收信号光的探测系统包括:光纤束,内的多根光纤束同时接收到所述的信号光;探测器阵列,具有分别连接每根光纤的多个探测器,得到对应的光强信号;时间相关单光子计数器阵列,具有分别连接每个探测器并与光源脉冲同步的时间相关单光子计数器,用于计算荧光寿命并实现超分辨荧光寿命成像。本发明还公开一种基于并行探测的超分辨荧光寿命成像方法。本发明利用并行APD和并行TCSPC,不仅实现了成像分辨率的提升,还显著提高了寿命成像速度。

著录项

  • 公开/公告号CN108120702B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-08-11

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 浙江大学;

    申请/专利号CN201711241950.3

  • 申请日2017-11-30

  • 分类号

  • 代理机构北京睿智保诚专利代理事务所(普通合伙);

  • 代理人周新楣

  • 地址 310013 浙江省杭州市西湖区余杭塘路866号

  • 入库时间 2022-08-23 11:08:45

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-08-11

    授权

    授权

  • 2018-06-29

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N21/64 申请日:20171130

    实质审查的生效

  • 2018-06-05

    公开

    公开

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