光场偏振态测量方法、装置、计算机设备和存储介质

摘要

本申请涉及一种光场偏振态测量方法、装置、计算机设备和存储介质。该方法包括：获取标定入射光的入射偏振态数据和标定出射光的出射偏振态数据；根据入射偏振态数据和出射偏振态数据，计算得到待测相位调制器的目标穆勒矩阵；将目标穆勒矩阵输入预先构建的偏振态几率密度分布模型，输出得到与目标穆勒矩阵对应的目标偏振态几率密度分布函数；目标偏振态几率密度分布函数的横坐标和纵坐标分别为斯托克斯参量和相应的几率值；目标偏振态几率密度分布函数与待测光场相对应；获取目标偏振态几率密度分布函数中最大几率值所对应的目标斯托克斯参量；通过目标斯托克斯参量表示待测光场的偏振态。采用本方法能够在弱光下提高光场偏振态测量精度，在非弱光下提高光场偏振态测量速度。