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一种基于熵理论的装配接触应力分布评估方法

摘要

本发明公开了一种基于熵理论的装配接触应力分布评估方法,包括如下步骤:针对待测零件,建立测量坐标系和三维实体模型,对三维实体模型进行有限元单元网格划分,计算各单元体的应变能密度;依据每个单元应变能密度计算总体熵估计值、总体极大熵、总体正规化熵值Hs;判断Hs是否大于或者等于设定阈值,若是则以Hs作为评价指标,评价待测零件表面装配应力分布均匀性;否则继续下述步骤;在测量坐标系下,垂直于z轴建立多个截面;找到凸包数量和凸包面积占待测零件表面面积比率最大截面,计算该截面上的凸包高度熵估计值、凸包高度极大熵、凸包高度正规化熵值Hcs;建立评价指标Ec:Ec=AHS+BHCS;采用评价指标Ec评价待测零件表面装配应力分布均匀性。

著录项

  • 公开/公告号CN106354942B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-07-28

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京理工大学;

    申请/专利号CN201610779936.8

  • 申请日2016-08-30

  • 分类号G06F30/17(20200101);G06F30/20(20200101);

  • 代理机构11120 北京理工大学专利中心;

  • 代理人高燕燕;仇蕾安

  • 地址 100081 北京市海淀区中关村南大街5号

  • 入库时间 2022-08-23 11:06:35

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-07-28

    授权

    授权

  • 2017-06-06

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06F17/50 申请日:20160830

    实质审查的生效

  • 2017-01-25

    公开

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