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基于入射光子到达时间的识别、成像、测序法及存储介质

摘要

一种集成电路包括光检测区域,其被配置成接收入射光子。所述光检测区域被配置成响应于所述入射光子产生多个电荷载流子。集成电路还包括至少一个电荷载流子存储区域。所述集成电路还包括电荷载流子分离结构,其被配置成基于产生电荷载流子的时间将所述多个电荷载流子中的所述电荷载流子选择性地指引到所述至少一个电荷载流子存储区域中。

著录项

  • 公开/公告号CN107112333B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-07-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 宽腾矽公司;

    申请/专利号CN201580054728.5

  • 申请日2015-08-07

  • 分类号

  • 代理机构隆天知识产权代理有限公司;

  • 代理人石海霞

  • 地址 美国康涅狄格州

  • 入库时间 2022-08-23 11:04:48

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-07-10

    授权

    授权

  • 2017-09-22

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L27/146 申请日:20150807

    实质审查的生效

  • 2017-08-29

    公开

    公开

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