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高载微构件动态特性测试装置

摘要

本发明高载微构件动态特性测试装置,是属于微机电系统中动态测试装置领域。一种高载微构件动态特性测试装置,由高速转台、微结构激励、微结构夹持、光学振动测试装置、光纤旋转接头组成。高速转台的一端是转臂,另一端为轴套形状。真空室通过螺栓安装在高速转台的转臂上,光纤旋转接头安装在高速转台轴套中;隔振泡沫、减振质量、压电激振器、微构件、光纤探头夹持装置和光纤探测头均安装在真空室内。使用该发明可以测试常态、动态下结构的动态特性,便于分析研究。其结构简单、易于调试。扩充了仪器的功能,测试精度较高;可用它对微加速度传感器进行标定。

著录项

  • 公开/公告号CN100390543C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2008-05-28

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 大连理工大学;

    申请/专利号CN200510046645.X

  • 发明设计人 王晓东;王涛;王立鼎;尹东;

    申请日2005-06-08

  • 分类号G01P21/00(20060101);

  • 代理机构21200 大连理工大学专利中心;

  • 代理人关慧贞

  • 地址 116023 辽宁省大连市甘井子区凌工路2号

  • 入库时间 2022-08-23 09:00:30

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2012-08-08

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01P 21/00 授权公告日:20080528 终止日期:20110608 申请日:20050608

    专利权的终止

  • 2008-05-28

    授权

    授权

  • 2006-02-15

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2005-12-21

    公开

    公开

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