一种盆栽生菜的综合长势监测方法及装置

摘要

本发明提供了一种盆栽生菜的综合长势检测方法及装置，其中一种盆栽生菜的综合长势检测装置由偏振‑高光谱成像系统和三维激光扫描系统组成，其中偏振‑高光谱成像系统包括控制系统、双坐标样本台、图像采集系统、光源系统，可实现对生菜水肥胁迫的冠层/叶片尺度的偏振‑高光谱多维反射成像特征的探测；其中三维激光扫描系统可实现对生菜生物量、茎粗、株高、叶面积等形貌特征的精确探测。本发明，通过对冠层和叶片不同尺度生菜生长特征的多信息融合，实现了对生菜综合长势信息的精确探测，为温室环境和水肥的优化调控提供了科学依据。