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X射线调制的X射线激发发光成像方法

摘要

本发明公开了X射线调制的X射线激发发光成像方法。X射线激发发光断层成像是利用X射线激发特定实验材料,利用激发出的近红外光信号进行成像。本发明采用的X射线调制的X射线激发发光成像系统,包括X射线束调制装置、CT子系统、光学子系统和安装板。X射线束调制装置包括X射线调制板和第一电动滑台;CT子系统包括第一固定块、锥束X射线发射器、X射线探测器、第二电动滑台、第二固定块和旋转台;光学子系统包括平面镜组、第一升降台、CCD相机和第二升降台。本发明同时获取待成像物体表面的荧光信号以及穿过待成像物体的X射线信号,并将该两种信号进行重建和融合,实现了多模态成像。

著录项

  • 公开/公告号CN106955121B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-06-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 杭州电子科技大学;

    申请/专利号CN201710148346.X

  • 发明设计人 陈冬梅;范姗慧;

    申请日2017-03-14

  • 分类号A61B6/03(20060101);A61B6/00(20060101);

  • 代理机构33240 杭州君度专利代理事务所(特殊普通合伙);

  • 代理人杜军

  • 地址 310018 浙江省杭州市下沙高教园区2号大街

  • 入库时间 2022-08-23 11:02:36

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-06-23

    授权

    授权

  • 2017-08-11

    实质审查的生效 IPC(主分类):A61B6/03 申请日:20170314

    实质审查的生效

  • 2017-07-18

    公开

    公开

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