首页> 中国专利> 基于一维线结构光的三维测量系统标定装置及方法

基于一维线结构光的三维测量系统标定装置及方法

摘要

本发明公开了一种基于一维线结构光的三维测量系统标定装置及方法,包括遮光板台,投影仪台,底座,遮光板和投影光接收板。可以将一维线结构光图案变为二维阵列图案。使用步骤包括:使用一维线结构光投影仪投射编制好的结构光,并调整好角度和位置以保证垂直关系;选择合适的位置固定遮光板;使用遮光板对投射光进行遮挡,使遮挡后的投影图案符合使用要求;获得举行阵列图案后介绍了后续的标定过程。该发明很好的降低了一维线结构光投影设备的标定难度,提高了标定效率。

著录项

  • 公开/公告号CN109425292B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-06-16

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 西安知微传感技术有限公司;

    申请/专利号CN201710757544.6

  • 发明设计人 杨迪;乔大勇;宋秀敏;

    申请日2017-08-29

  • 分类号G01B11/00(20060101);

  • 代理机构61211 西安智邦专利商标代理有限公司;

  • 代理人汪海艳

  • 地址 710077 陕西省西安市高新区丈八五路10号陕西省科技资源统筹中心B503室

  • 入库时间 2022-08-23 11:02:05

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-06-16

    授权

    授权

  • 2019-03-29

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B11/00 申请日:20170829

    实质审查的生效

  • 2019-03-05

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号