公开/公告号CN107101584B
专利类型发明专利
公开/公告日2020-06-12
原文格式PDF
申请/专利权人 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所;
申请/专利号CN201710285370.8
申请日2017-04-27
分类号
代理机构深圳市科进知识产权代理事务所(普通合伙);
代理人赵勍毅
地址 130033 吉林省长春市经济技术开发区东南湖大路3888号
入库时间 2022-08-23 11:01:25
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2020-06-12
授权
授权
2017-09-22
实质审查的生效 IPC(主分类):G01B11/02 申请日:20170427
实质审查的生效
2017-08-29
公开
公开
机译: 位移测量装置和使用该位移测量装置的位移测量方法,能够精确地测量具有低反射率的物体的位移
机译: 位移测量方法,测量装置用于位移测量方法的测量装置,以及用于实现位移测量方法的测量系统。
机译: 位移测量方法的位移测量装置及长距离物体的长距离物体