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采样方法、采样控制方法、采样装置及采样控制系统

摘要

本申请公开了一种采样方法、采样控制方法、采样装置、采样控制装置、采样控制系统及显示装置,用以缩短采样像素单元的亮度信息的时间,进而提高了调整像素单元的亮度的速度,提高了显示面板的亮度均一性。本申请提供的一种采样方法,用于对显示基板上设置的像素单元进行采样,该方法包括:控制器控制多个采样模块同时开启,使得所述控制器控制的多个采样模块能够接收并保存采样通道采样得到的所述像素单元的亮度信息;控制器依次控制一组采样通道同时开启,使得该组采样通道同时进行亮度信息的采样,并将采样到的所述亮度信息通过该组采样通道的输出端传输给与该组采样通道相连的各采样模块。

著录项

  • 公开/公告号CN108198527B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-06-09

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 京东方科技集团股份有限公司;

    申请/专利号CN201711350617.6

  • 发明设计人 宋琛;王糖祥;高展;孟松;杨栋芳;

    申请日2017-12-15

  • 分类号

  • 代理机构北京同达信恒知识产权代理有限公司;

  • 代理人郭润湘

  • 地址 100015 北京市朝阳区酒仙桥路10号

  • 入库时间 2022-08-23 11:01:06

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-06-09

    授权

    授权

  • 2018-07-17

    实质审查的生效 IPC(主分类):G09G3/00 申请日:20171215

    实质审查的生效

  • 2018-06-22

    公开

    公开

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