一种面向软件缺陷个数预测的特征选择方法

摘要

本发明针对软件缺陷数据集中不相关特征和冗余特征会降低软件缺陷个数预测模型的性能的问题，提出了一种面向软件缺陷个数预测的特征选择方法。首先利用特征与特征之间的关联性，对特征集进行谱聚类，将相互之间冗余度高的特征聚类到同一个簇中。在聚类的结果中，利用特征与软件缺陷个数之间的相关性，从每个簇中选出相关性最强的几个特征，这样既降低了特征之间的冗余度，又排除了不相关特征，得到最终的有益于缺陷个数预测模型性能的特征子集。本发明的技术方案具有简单、快速的特点，得到的特征子集有助于提高软件缺陷个数预测模型的性能。