首页> 中国专利> 光学复杂曲面元件的磁流变抛光补偿加工方法、系统及介质

光学复杂曲面元件的磁流变抛光补偿加工方法、系统及介质

摘要

本发明公开了一种光学复杂曲面元件的磁流变抛光补偿加工方法、系统及介质,本发明的磁流变抛光补偿加工方法包括:获取平面去除函数;映射得到不同曲率下的球面去除函数;针对待加工工件面形区域内的每一个驻留点,拟合计算驻留点附近的复杂曲面局部区域的最接近球面,以该复杂曲面局部区域的最接近球面的曲率对应的球面去除函数近似作为该驻留点附近的复杂曲面局部区域的去除函数;建立基于线性方程组模型的驻留时间求解算法,仿真求得各个驻留点的驻留时间分布及面形残差,指导待加工工件的磁流变抛光。本发明能够有效保证了加工过程中的确定性,且提高了加工过程中的收敛率。

著录项

  • 公开/公告号CN109909815B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-06-02

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国人民解放军国防科技大学;

    申请/专利号CN201910243077.4

  • 申请日2019-03-28

  • 分类号B24B1/00(20060101);B24B13/00(20060101);B24B49/00(20120101);G06F30/17(20200101);G06F30/20(20200101);

  • 代理机构43008 湖南兆弘专利事务所(普通合伙);

  • 代理人谭武艺

  • 地址 410073 湖南省长沙市开福区砚瓦池正街47号

  • 入库时间 2022-08-23 11:00:23

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-06-02

    授权

    授权

  • 2019-07-16

    实质审查的生效 IPC(主分类):B24B1/00 申请日:20190328

    实质审查的生效

  • 2019-06-21

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号