伴随粒子中子检测的自动时间标定方法

摘要

本发明提供了一种伴随粒子中子检测的自动时间标定方法，该时间标定方法包括以下步骤：将石墨块放置于中子发生器正前方一定距离处；控制中子发生器向石墨块发射中子束；基于伴随粒子检测技术测量α‑γ符合飞行时间谱；利用测量的α‑γ符合飞行时间谱确定中子直接作用于石墨块所形成的谱峰，并将谱峰对应的符合时间作为测量基准时间；以及对检测对象进行中子检测，以确定检测对象中相关元素的含量特征。该方法解决了用于测量伴随α粒子的Si半导体探测器随温度和时间变化的标定时间不稳定的问题，保证了待检测对象的检测定位精度，实现了检测区域内的元素特征的准确分析。