首页> 中国专利> 一种基于新型计量光栅的位移测量系统及方法

一种基于新型计量光栅的位移测量系统及方法

摘要

本发明公开了一种基于新型计量光栅的位移测量系统及方法,系统部分包括光源、聚光镜,锥形指示光栅,锥形标尺光栅,七个光敏元件、三个平均值模块、整形电路、细分变向模块、可逆计数模块和数字显示模块;本发明采用的光栅副中主光栅与指示光栅线均为锥形槽,即一般是用光学玻璃或不锈钢做基体,在其上均匀地刻划出间距、宽度相等的顶角为θ锥形条纹,形成连续的透光区和不透光区。将指示光栅与标尺光栅叠合在一起,两者的栅线保持平行即可,因此降低了光栅副的加工和装配难度,且提高了测量的精度。

著录项

  • 公开/公告号CN108088372B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-05-19

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 杭州电子科技大学;

    申请/专利号CN201711403741.4

  • 发明设计人 尚平;

    申请日2017-12-22

  • 分类号G01B11/02(20060101);

  • 代理机构33240 杭州君度专利代理事务所(特殊普通合伙);

  • 代理人朱月芬

  • 地址 310018 浙江省杭州市下沙高教园区2号大街

  • 入库时间 2022-08-23 10:58:55

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-05-19

    授权

    授权

  • 2018-06-22

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B11/02 申请日:20171222

    实质审查的生效

  • 2018-05-29

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号