一种基于噪声系数分析仪的噪声功率谱密度测量方法

摘要

本发明提出一种基于噪声系数分析仪的噪声功率谱密度测量方法，可解决单端口电子设备、非线性电子设备噪声性能评定难题。本发明的技术方案包括校准过程和测量过程；还需要配备噪声源，其超噪比数据经过精确定标，用噪声源作为测量的标准激励源，噪声功率谱密度测量精度可溯源到噪声源超噪比的定标精度上，测量精度高；通过校准和测量过程中噪声功率的比值运算得到被测微波电子设备的输出噪声功率谱密度，噪声系数分析仪通道增益和测量带宽等参数在比值运算中抵消了，避免了现有技术方案中测量仪器通道增益变化和带宽修正引入的测量误差。