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用于微型同步隔磁电机的表层探损方法和装置

摘要

本发明提供了用于微型同步隔磁电机的表层探损方法和装置。表层探损方法包括:将待测电机置于U型磁轭的U型腔内,并在待测电机的待测表面上放置接收棒,其中,U型磁轭的水平部套有第一线圈,且该第一线圈连接交流电源,接收棒上套有第二线圈;接通交流电源,以使第一线圈接入输入电流,以预定采样周期对第二线圈中当前生成的电流信号进行采样,以获得该电流信号对应的待测特征参数;将待测特征参数与参考特征参数进行比较,以根据比较结果确定待测特征参数对应的损伤等级,作为待测电机的表面探损结果。表层探损装置能够执行上述方法的处理。本发明的上述表层探损方法和装置,能够有效地适用于电机表层的损伤检测,克服现有技术的不足。

著录项

  • 公开/公告号CN106841380B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-04-28

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 哈尔滨理工大学;

    申请/专利号CN201710061062.7

  • 申请日2017-01-25

  • 分类号

  • 代理机构哈尔滨市伟晨专利代理事务所(普通合伙);

  • 代理人张伟

  • 地址 150080 黑龙江省哈尔滨市南岗区学府路52号

  • 入库时间 2022-08-23 10:56:43

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-04-28

    授权

    授权

  • 2017-07-07

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N27/83 申请日:20170125

    实质审查的生效

  • 2017-07-07

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 27/83 申请日:20170125

    实质审查的生效

  • 2017-06-13

    公开

    公开

  • 2017-06-13

    公开

    公开

  • 2017-06-13

    公开

    公开

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