首页> 中国专利> 高压热充氢制备纳米晶硅薄膜的方法及其专用设备

高压热充氢制备纳米晶硅薄膜的方法及其专用设备

摘要

本发明属于纳米晶硅薄膜的制备方法,具体为一种高压热充氢制备纳米晶硅薄膜的方法及其专用设备,主要应用于量子功能器件、发光器件和压力传感器件。该方法对单晶硅在高压氢气的环境中进行长时间氢扩散处理;氢气的压力为10~12MPa,高压反应釜的加热温度为573~723K,渗氢处理时间为120小时~288小时,脱氢时间为48~96小时。设备由反应室、氢气加压传输系统、加热控温系统和真空系统组成。本发明可以直接在单晶片上大面积生成纳米晶硅薄膜,并且在整个表面上厚度均匀;在高压反应釜内部一次性直接生成纳米晶硅薄膜,中间不需要转移和改变单晶硅片的状态;制备的纳米晶硅薄膜中纳米晶粒的尺度均匀,平均晶粒尺度大约在5nm,生成纳米晶硅晶体体积比>50%。

著录项

  • 公开/公告号CN100362143C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2008-01-16

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院金属研究所;

    申请/专利号CN200510047084.5

  • 发明设计人 谭军;万晔;温井龙;张磊;姚戈;

    申请日2005-08-24

  • 分类号C30B28/02(20060101);C30B29/06(20060101);

  • 代理机构21002 沈阳科苑专利商标代理有限公司;

  • 代理人张志伟

  • 地址 110016 辽宁省沈阳市沈河区文化路72号

  • 入库时间 2022-08-23 09:00:18

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2014-10-22

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):C30B 28/02 授权公告日:20080116 终止日期:20130824 申请日:20050824

    专利权的终止

  • 2008-01-16

    授权

    授权

  • 2007-04-25

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2007-02-28

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号