首页> 中国专利> 星上高光谱成像仪真空光谱定标装置及其测试方法

星上高光谱成像仪真空光谱定标装置及其测试方法

摘要

本发明提供了一种星上高光谱成像仪真空光谱定标装置及其测试方法,该装置包括第一隔振设备等,第一隔振设备位于真空罐的外部,光源位于分光设备的一侧,光源、分光设备都放置在第一隔振设备上,分光设备放置于真空罐的外部,分光设备位于定标控制系统的一侧,平行光管位于高光谱成像仪的一侧,平行光管和二维指向镜都放置于真空罐的内部,高光谱成像仪位于二维指向镜的下方,外热流加热设备放置于真空罐内,第二隔振设备位于外热流加热设备的下方,高光谱成像仪放置在第二隔振设备上。本发明建立了具备星上高光谱仪器测试、空间环境适应性试验、高精度地面光谱定标能力的高光谱定标系统,确保环境引起的微形变不影响仪器的光谱性能。

著录项

  • 公开/公告号CN107796515B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-04-21

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海卫星工程研究所;

    申请/专利号CN201710861652.8

  • 申请日2017-09-21

  • 分类号G01J3/28(20060101);

  • 代理机构31236 上海汉声知识产权代理有限公司;

  • 代理人郭国中

  • 地址 200240 上海市闵行区华宁路251号

  • 入库时间 2022-08-23 10:56:06

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-04-21

    授权

    授权

  • 2018-04-06

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01J3/28 申请日:20170921

    实质审查的生效

  • 2018-04-06

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01J 3/28 申请日:20170921

    实质审查的生效

  • 2018-03-13

    公开

    公开

  • 2018-03-13

    公开

    公开

  • 2018-03-13

    公开

    公开

查看全部

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号